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加速Flash系列FPGA芯片功能验证方法
文献摘要：
提出了一种加速闪存(Flash)系列现场可编程门阵列(FPGA)芯片功能验证方法.通过解析全配置位流,得到帧数据与svf文件的映射关系,根据验证用例赋值相应的配置位流,大大减少了大规模FPGA全芯片功能验证的配置时间,加速了仿真的速度,提高了仿真验证效率.该方法已成功应用于Flash系列FPGA芯片电路功能验证工程实践中.
文献关键词：
功能验证;配置码流;验证用例
中图分类号：
作者姓名：
胡凯;丛红艳;闫华;张艳飞;李涌
作者机构：
中科芯集成电路有限公司,江苏无锡 214072;中微亿芯有限公司,江苏无锡 214072
文献出处：
引用格式：
[1]胡凯;丛红艳;闫华;张艳飞;李涌-.加速Flash系列FPGA芯片功能验证方法)[J].电子与封装,2022(09):60-63
A类：
svf,配置码流
B类：
Flash,FPGA,功能验证,验证方法,闪存,现场可编程门阵列,映射关系,验证用例,赋值,大大减少,仿真验证,成功应用
AB值：
0.266214
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