典型文献
一种优化FPGA内嵌BRAM自检测March C+算法
文献摘要：
在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中,传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题.为了提高故障覆盖率,在March C+算法的基础上,提出一种March CG新算法.该算法通过增加连续写操作和测试算法的数据背景提高字内耦合故障、写干扰故障覆盖率.构建高效率存储器内建自测试电路,采用March CG算法实现对单个BRAM和多个BRAM的测试.实验表明,在单个BRAM测试中,相比March C+算法,March CG算法对故障的覆盖率提高了 13.6％;在多个BRAM测试中,对BRAM资源的覆盖率达到了 100％.
文献关键词：
存储器内建自测试;块存储器;March C+;故障覆盖率
中图分类号：
作者姓名：
葛云侠;武乾文;赵益波;陈龙
作者机构：
南京信息工程大学电子与信息工程学院 南京210044;中国电子科技集团公司第58研究所 无锡214035;江苏省大气环境与装备技术协同创新中心 南京210044
文献出处：
引用格式：
[1]葛云侠;武乾文;赵益波;陈龙-.一种优化FPGA内嵌BRAM自检测March C+算法)[J].国外电子测量技术,2022(04):1-7
A类：
嵌块,块存储器,存储器内建自测试
B类：
FPGA,内嵌,BRAM,自检测,March,C+,现场可编程门阵列,统测,故障覆盖率,测试内容,试成,CG,新算法,续写,试算法,数据背景,耦合故障,测试电路,算法实现
AB值：
0.22632
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
