典型文献
辉光放电质谱法测定高纯材料中痕量硫杂质
文献摘要：
准确测定并控制材料中杂质元素含量是发挥高纯材料性能不可或缺的环节.辉光放电质谱法(GDMS)是准确、快速、高灵敏分析高纯材料中痕量及超痕量硫的理想方法.对GDMS分析高纯铜和镍基高温合金中痕量硫的质谱干扰进行了考察,优化了放电电流和放电电压,采用多种标准物质对硫的相对灵敏度因子(RSF)进行了校准和验证,RSF校准后的测定值与标样参考值的偏差为-2.4％和—2.6％.与二次离子质谱法(SIMS)进行实际样品的分析结果比对,两种方法测定结果的相对偏差为-3.45％和-4.67％,验证了 GDMS定量分析结果的准确性和可靠性.
文献关键词：
辉光放电质谱;高纯材料;硫;相对灵敏度因子
中图分类号：
作者姓名：
李铭;刘国;江鹏;杨紫君;莽雯倩;高旭升;周文斌
作者机构：
北京清质分析技术有限公司,北京101318;奥迪中国企业管理有限公司,北京100015
文献出处：
引用格式：
[1]李铭;刘国;江鹏;杨紫君;莽雯倩;高旭升;周文斌-.辉光放电质谱法测定高纯材料中痕量硫杂质)[J].中国无机分析化学,2022(04):126-130
A类：
高纯材料
B类：
辉光放电质谱法,痕量,制材,杂质元素含量,材料性能,GDMS,高灵敏,高纯铜,镍基高温合金,质谱干扰,放电电流,放电电压,标准物质,相对灵敏度因子,RSF,测定值,参考值,二次离子质谱,SIMS,结果比对,测定结果,相对偏差
AB值：
0.288806
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