典型文献
一种SAR ADC电容失配自测量与数字校准技术
文献摘要：
为了解决高分辨率逐次逼近模数转换器(SAR ADC)中,电容式数模转换器(DAC)的电容失配导致精度下降的问题,提出了一种电容失配自测量方法,以及一种可适用于各种差分电容DAC设计的低复杂度的前台数字校准方法.该方法利用自身电容阵列及比较器完成位电容失配测量,基于电容失配的转换曲线分析,对每一位输出的权重进行修正,得到实际DAC电容大小对应的正确权重,完成数字校准.数模混合电路仿真结果表明,引入电容失配的16位SAR ADC,经该方法校准后,有效位数由10.74 bit提高到15.38 bit.
文献关键词：
逐次逼近模数转换器;数字校准;电容失配
中图分类号：
作者姓名：
王巍;刘博文;赵汝法;张定冬;张珊;熊德宇
作者机构：
重庆邮电大学光电工程学院/国际半导体学院,重庆400065
文献出处：
引用格式：
[1]王巍;刘博文;赵汝法;张定冬;张珊;熊德宇-.一种SAR ADC电容失配自测量与数字校准技术)[J].微电子学,2022(04):550-554
A类：
前台数字校准
B类：
SAR,ADC,电容失配,自测,校准技术,逐次逼近模数转换器,电容式,数模转换器,DAC,种差,差分电容,低复杂度,校准方法,法利,利用自身,电容阵列,比较器,每一位,确权,数模混合电路,电路仿真,有效位数,bit
AB值：
0.262449
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