典型文献
基于Vth和Vce的IGBT结温测量方法对比研究
文献摘要：
小电流下饱和压降法(Vce法)和阈值电压法(Vth法)是IGBT热阻测试标准中推荐使用的两种结温测量方法,然而并没有说明两种方法测得的结温的关系及等效性.首先理论分析了小电流下饱和电压和阈值电压的电压构成,表明Vce法测得的结温反映的是芯片集电极侧的温度信息,Vth法测得的结温反映的是芯片发射极侧的温度信息,由于芯片内部存在垂直温度梯度,推断Vth法测得的结温将高于Vce法测得的结温;然后根据两种测量方法的测量原理,搭建了IGBT结温测量平台,在不同负载电流下用两种方法测量结温,实验结果验证了理论预测,且两种方法测得的结温的差值随着负载电流增加而增大.最后,提出一种简易热校准模型用于快速计算差值,使得两种方法的结果可以等效变换并进行公平对比.
文献关键词：
IGBT模块;结温测量;小电流下饱和压降法;阈值电压法
中图分类号：
作者姓名：
曾晓彤;王荣茂
作者机构：
襄阳汽车职业技术学院汽车工程学院/新能源汽车学院,湖北襄阳441021;上海交通大学电子信息与电气工程学院,上海200240
文献出处：
引用格式：
[1]曾晓彤;王荣茂-.基于Vth和Vce的IGBT结温测量方法对比研究)[J].电气传动,2022(11):24-28
A类：
Vce,小电流下饱和压降法,阈值电压法
B类：
Vth,IGBT,结温测量,方法对比,热阻测试,测试标准,等效性,集电极,发射极,温度梯度,测量原理,测量平台,不同负载,负载电流,理论预测,校准模型,快速计算,等效变换
AB值：
0.205116
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