典型文献
CRH5型动车组用IGBT器件寿命评估
文献摘要：
半实物仿真计算结果表明,CRH5型动车组四象限整流侧IGBT器件寿命长于逆变侧,机车频繁进站会降低IGBT器件寿命.典型线路计算时,最小寿命约为780万km.与寿命相关的测试表明,与全新同型号IGBT器件相比,运行480万km的IGBT器件芯片及DBC焊层超声波扫描未出现分层现象.饱和压降及键合点推力测试表明,键合线根部已经出现裂纹,导致饱和压降平均值比全新增加0.196％,IGBT芯片键合线推力均值由全新的2800 g降低到2400 g,FRD芯片键合线推力均值由全新的2800 g降低到2600 g及2300 g,退化后的测试电学参数均在额定值以内,未达到寿命失效标准.这些研究结果对寿命预测结果进行了初步的验证.
文献关键词：
IGBT器件寿命;CRH5型动车组;饱和压降;焊层超声波扫描;键合点推力
中图分类号：
作者姓名：
谌娟;于凯;安军鹏
作者机构：
西安理工大学自动化学院,陕西 西安 710048;中车永济电机有限公司技术中心,山西 永济 044000
文献出处：
引用格式：
[1]谌娟;于凯;安军鹏-.CRH5型动车组用IGBT器件寿命评估)[J].电工技术,2022(22):102-104
A类：
焊层超声波扫描,键合点推力
B类：
CRH5,动车组,IGBT,寿命评估,半实物仿真,仿真计算,四象限,整流侧,寿命长,逆变侧,机车,进站,型线,命相,测试表明,同型号,器件芯片,DBC,分层现象,饱和压降,推力测试,键合线,根部,FRD,电学参数,参数均,额定值,效标,寿命预测
AB值：
0.325369
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