典型文献
压接型IGBT功率模块加速老化试验方法
文献摘要：
针对目前对压接型绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)可靠性评估测试工作的不足,从器件应用角度提出了可用于柔直功率模块的老化循环试验方法.结合不同试验工况下的理想试验波形及热阻模型得到了适用于不同试验的结温波动公式.通过实验验测得到了压接型IGBT在老化试验下的结温波动波形,对所提方法进行了验证.
文献关键词：
压接型IGBT;结温;循环老化;热阻抗
中图分类号：
作者姓名：
李标俊;褚海洋;庄志发;文军
作者机构：
中国南方电网有限责任公司超高压输电公司天生桥局,贵州 兴义 562400;荣信汇科电气股份有限公司,辽宁 鞍山 114051
文献出处：
引用格式：
[1]李标俊;褚海洋;庄志发;文军-.压接型IGBT功率模块加速老化试验方法)[J].中国电力,2022(10):87-91,177
A类：
B类：
压接型,IGBT,功率模块,加速老化试验,老化试验方法,绝缘栅双极型晶体管,insulated,gate,bipolar,transistor,可靠性评估,评估测试,测试工作,器件应用,柔直,循环试验,试验工况,结温,循环老化,热阻抗
AB值：
0.398031
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