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光器件金线图像高光区域的检测与去除
文献摘要：
针对视觉检测过程中光器件金线表面出现的高光现象,提出一种光器件金线图像高光区域的检测与去除方法.首先,根据采集的金线图像进行特征分析,利用OTSU算法分割高光区域;其次,调用MATLAB中的bwareaopen()函数删除小面积对象,即高光闭合区域,并通过图像的差值运算提取高光区域图像;最后,采用八邻域像素平均值的方法更新高光区域像素值,该方法既可以去除高光区域,又可以保证此区域像素值在图像中的均衡分布.通过仿真实验结果分析,验证了金线图像高光区域检测与去除方法的有效性和可行性,同时为后续金线的质量检测提供有力保障.
文献关键词：
光器件金线;图像处理;OTSU算法;高光去除
中图分类号：
作者姓名：
叶婷;赵立宏;李明;王炀其
作者机构：
南华大学电气工程学院 衡阳 421000;南华大学核科学技术学院 衡阳 421000;浙江兰特普光电子技术有限公司 诸暨 311800
文献出处：
引用格式：
[1]叶婷;赵立宏;李明;王炀其-.光器件金线图像高光区域的检测与去除)[J].电子测量与仪器学报,2022(02):146-152
A类：
光器件金线,bwareaopen,高光去除
B类：
对视,视觉检测,检测过程,光现象,去除方法,OTSU,调用,删除,小面积,八邻域,邻域像素,实验结果分析,区域检测,质量检测
AB值：
0.202208
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