典型文献
图像处理技术的光学元件表面疵病检测
文献摘要：
提出基于图像处理技术的光学元件表面疵病检测方法,旨在提高光学元件表面疵病检测精度.采用背景校正算法去除图像噪声并均匀补偿背景,通过的自适应阈值法分割疵病目标区域,结合图像梯度信息,改善最大类间方差法局限性,使用外接矩形法刻画分割得到疵病目标区域尺寸,实现光学元件表面疵病检测.实验证明:该方法校正后的疵病图像背景均匀性较好,且未出现图像细节大量丢失情况,抗噪能力强;能够判断疵病形状,划分麻点和划痕类疵病,光学元件表面疵病检测效果好.
文献关键词：
图像处理技术;表面疵病;图像形态学;背景校正算法
中图分类号：
作者姓名：
丁兵兵;匡珍春;王军民;何小山
作者机构：
湛江科技学院智能制造学院,广东湛江 524094;广东海洋大学数学与计算机学院,广东湛江 524088
文献出处：
引用格式：
[1]丁兵兵;匡珍春;王军民;何小山-.图像处理技术的光学元件表面疵病检测)[J].激光杂志,2022(11):31-35
A类：
背景校正算法
B类：
图像处理技术,光学元件,表面疵病,疵病检测,检测精度,图像噪声,自适应阈值,阈值法,目标区域,图像梯度,梯度信息,最大类间方差法,外接矩形,形法,画分,割得,方法校正,麻点,划痕,检测效果,图像形态学
AB值：
0.224166
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