典型文献
太赫兹光致力近场显微成像技术及应用研究
文献摘要：
设计并搭建了太赫兹光致力显微成像系统(THz PiFM),首次在太赫兹波段实现了近场光力纳米显微成像测量.该系统基于原子力显微镜,利用探针对所受力的灵敏检测能力,通过探测探针与样品之间近场偶极相互作用产生的光场梯度力,实现无探测器的太赫兹近场显微成像.利用该系统,对可见光激发下的单层MoS2晶粒进行了近场纳米显微成像表征,并分析了晶粒边缘近场光力信号增强的机制.研究结果表明,THz PiFM对二维材料中的载流子具有高灵敏的探测能力.与传统的太赫兹近场显微成像技术相比,THz PiFM无需太赫兹探测器,而且可获得更加优越的空间分辨率和成像信噪比,是一种低成本、高性能的新型太赫兹近场显微成像技术.
文献关键词：
光致力显微镜;MoS2;太赫兹近场成像;载流子分布
中图分类号：
作者姓名：
冯邱锴;刘逍;游冠军
作者机构：
上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海 200093
文献出处：
引用格式：
[1]冯邱锴;刘逍;游冠军-.太赫兹光致力近场显微成像技术及应用研究)[J].光学仪器,2022(05):61-68
A类：
PiFM,光致力显微镜,太赫兹近场成像,载流子分布
B类：
显微成像,技术及应用,成像系统,THz,太赫兹波段,光力,原子力显微镜,检测能力,测探,光场,梯度力,可见光,光激发,发下,MoS2,晶粒,信号增强,二维材料,高灵敏,探测能力,太赫兹探测器,空间分辨率
AB值：
0.211813
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