典型文献
间接式X射线探测器的核心器件及其耦合方式
文献摘要：
间接式X射线探测器(IXD)的性能随着医学诊断、工业无损检测、安全监测以及科学研究等领域对成像要求的逐步提高而得到不断提升,进而推动了低辐射剂量、高分辨率、快速实时X射线成像探测技术的进一步发展.闪烁屏和图像传感器作为IXD的核心器件,伴随着闪烁体材料、半导体制造工艺和集成电路技术的进步得到了快速发展.为实现图像在闪烁屏和图像传感器间进行有效传输,通常采取3种耦合方式:光纤耦合、光学透镜耦合和直接耦合.本文主要介绍了闪烁屏和图像传感器的研究进展以及3种耦合方式的结构和特点,并对IXD未来发展的趋势进行了展望.
文献关键词：
X射线光学;间接式X射线探测器;闪烁屏;图像传感器;光纤耦合;光学透镜耦合;直接耦合
中图分类号：
作者姓名：
龚建伟;陈兵
作者机构：
福州大学机械工程及自动化学院,福建福州350108;福州鑫图光电有限公司,福建福州350026
文献出处：
引用格式：
[1]龚建伟;陈兵-.间接式X射线探测器的核心器件及其耦合方式)[J].激光与光电子学进展,2022(07):27-42
A类：
IXD,闪烁屏,光学透镜耦合
B类：
间接式,射线探测,探测器,耦合方式,医学诊断,无损检测,安全监测,逐步提高,低辐射剂量,成像探测,探测技术,和图像,图像传感器,闪烁体材料,半导体制造,制造工艺,集成电路,光纤耦合,直接耦合
AB值：
0.213261
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