典型文献
Ga-In共晶固定点复现及赋值研究
文献摘要：
次级固定点进一步分度温度计应用于温度校准已成为减小温度量值传递不确定度的重要方法.围绕Ga-In二元合金,以高复现水平为目标,详细介绍了大尺寸固定点容器研制、固定点灌注过程,开展了固定点复现性、亚配比剩余镓温坪验证实验研究;采用了切线交点法、均值法、三次多项式拟合法3种相变温度取值方法对Ga-In固定点进行了评价和分析,并使用3支标准铂电阻温度计对Ga-In共晶固定点温度进行了赋值.结果 表明:Ga-In共晶固定点温坪可持续20 h以上,复现性优于0.15mK;采用切线交点法赋值得到Ga-In共晶固定点相变温度为15.6494℃,扩展不确定度为0.76 mK(k =2).
文献关键词：
计量学;90国际温标;Ga-In二元合金;微型共晶固定点;相变温度
中图分类号：
作者姓名：
王成科;周静伟;汪洪军;孙建平;李婷;阮一鸣
作者机构：
中国计量大学计量测试工程学院,浙江杭州310018;中国计量科学研究院,北京100029
文献出处：
引用格式：
[1]王成科;周静伟;汪洪军;孙建平;李婷;阮一鸣-.Ga-In共晶固定点复现及赋值研究)[J].计量学报,2022(02):169-175
A类：
次级固定点,温坪,标准铂电阻温度计,15mK,微型共晶固定点
B类：
Ga,In,复现,赋值,分度,温度校准,小温,量值传递,大尺寸,验证实验,切线,交点法,均值法,三次多项式,多项式拟合法,相变温度,取值方法,扩展不确定度,温标
AB值：
0.196903
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
