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基于半导体纳米线/锥形微光纤探针的被动式近场光学扫描成像
文献摘要：
本文结合近场扫描结构和纳米线-微光纤耦合技术,提出了一种基于硫化镉纳米线/锥形微光纤探针结构的被动近场光学扫描成像系统.该系统采用被动式纳米探针,保留了纳米探针对样品表面反射光的强约束优势.其理论收集效率为4.65‰,相比于传统的金属镀膜近场探针收集效率提高了一个数量级,可有效地提高扫描探针对样品形貌信息的检测能力;而后通过硫化镉纳米线与微光纤之间高效的倏逝场耦合,将检测的光强信号传输到远场进行光电探测,最终实现对目标样品形貌的分析成像,其样品宽度测量误差在7.28％以内.该系统不需要外部激发光路,利用显微镜自身光源进行远场照明,被动扫描探针仅作为样品表面反射光的被动收集系统.本文基于半导体纳米线/锥形微光纤探针的被动式近场光学扫描成像方案,可有效地降低探针的制备难度和目标光场的检测难度,简化扫描成像的结构,为近场光学扫描显微系统之后的发展提供新的思路.
文献关键词：
近场光学扫描;被动显微成像技术;纳米线/微光纤光学探针;硫化镉纳米线;倏逝场耦合
中图分类号：
作者姓名：
窦琳;麻艳娜;顾兆麒;刘家彤;谷付星
作者机构：
上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海 200093
文献出处：
引用格式：
[1]窦琳;麻艳娜;顾兆麒;刘家彤;谷付星-.基于半导体纳米线/锥形微光纤探针的被动式近场光学扫描成像)[J].物理学报,2022(04):80-87
A类：
微光纤,近场光学扫描,硫化镉纳米线,近场探针,倏逝场耦合,被动扫描,被动显微成像技术
B类：
半导体纳米线,锥形,光纤探针,被动式,扫描成像,光纤耦合,耦合技术,成像系统,纳米探针,反射光,强约束,镀膜,效率提高,数量级,扫描探针,检测能力,过硫,信号传输,输到,远场,光电探测,宽度测量,测量误差,激发光路,光源,照明,收集系统,光场,微系统,光纤光学,光学探针
AB值：
0.19099
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