典型文献
宇航辐照对挠性电路的损伤性能及机理研究
文献摘要：
针对柔性电路在宇航运行的环境进行综合辐照试验,明确辐照试验对柔性电路表面微观形貌的影响,并通过XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)分析微观形貌变化中柔性电路表面聚酰亚胺基团变化情况.通过分析可知,聚酰亚胺主链结构具有较强抗辐照功能,但是聚酰亚胺聚合过程中缺陷基团可能导致聚酰亚胺加速老化,进而可能造成柔性电路的性能发生变化.
文献关键词：
宇航环境;挠性电路;辐照试验;损伤机理
中图分类号：
作者姓名：
邹文中;周国云;何为;杨猛;吴琼;张彬彬;毕建民
作者机构：
电子科技大学材料与能源学院,四川 成都 610054;北京卫星制造厂有限公司电子装联中心,北京 100094;新华海通(厦门)信息科技有限公司,福建 厦门 361000
文献出处：
引用格式：
[1]邹文中;周国云;何为;杨猛;吴琼;张彬彬;毕建民-.宇航辐照对挠性电路的损伤性能及机理研究)[J].印制电路信息,2022(02):43-47
A类：
挠性电路,宇航环境
B类：
损伤性能,柔性电路,航运,辐照试验,表面微观形貌,XPS,ray,Photoelectron,Spectroscopy,形貌变化,聚酰亚胺,胺基,基团,主链,链结构,抗辐照,加速老化,损伤机理
AB值：
0.306862
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