典型文献
一种可自动检测宏观缺陷的AOI设备设计探究
文献摘要：
目前,TFT-LCD行业CF基板的微观缺陷主要依靠AOI设备进行.AOI的原理是通过五点比对法自动对微观缺陷进行锁定;而基板的宏观品质主要依靠Mura设备进行.Mura设备原理是通过钠灯照射,CCD生成精度较低的基板灰度图像,由作业人员人眼进行缺陷的检测,这种宏观检测方法自动化低,依赖人力,准确率的稳定性也很难保证.就此问题,文章提出一种可以自动检测出宏观缺陷的AOI设备,通过算法的添加和优化,在检出微观缺陷的同时,能够准确的监控及检出宏观缺陷,使得宏观缺陷的检出结果更加准确、自动化程度更高,节约大量的人力,有很强的推广意义.
文献关键词：
AOI设备;灰度图像;可换挡型支撑杆;宏观检测机
中图分类号：
作者姓名：
毛继禹;曹斌;薛凤明;刘滋旺;徐铮
作者机构：
北京京东方显示技术有限公司,北京 100176
文献出处：
引用格式：
[1]毛继禹;曹斌;薛凤明;刘滋旺;徐铮-.一种可自动检测宏观缺陷的AOI设备设计探究)[J].科技创新与应用,2022(07):1-3
A类：
可换挡型支撑杆,宏观检测机
B类：
自动检测,AOI,设备设计,设计探究,TFT,LCD,CF,基板,微观缺陷,五点,比对法,陷进,Mura,设备原理,钠灯,CCD,灰度图像,作业人员,人眼,难保,就此,检出结果,推广意义
AB值：
0.369324
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
