典型文献
电子元器件缺陷检测技术研究与开发
文献摘要：
目前,电子元器件缺陷的检测大多都是对其内部和外部进行检测,内部检测难度比较大,检测参数和检测过程较为复杂、麻烦,而且内部的参数有时候后不能准确地进行检测;而外观缺陷检测大多数只通过人眼或显微镜进行人工观察,效率低下,浪费人力物力;为此通过对电子元器件的内部和外部缺陷进行检测判断是否存在性能参数失效,以及利用数字图像处理技术对电子元器件外观缺陷进行检测和分析.具体地,明确内部参数检测原理和外部检测主要结构与功能,外部检测主要获取图像进行分析,同时,执行图像分割与降噪处理,借助于生成的灰度共生矩阵将纹理特征值计算出来,与预存储缺陷数据进行比对,明确元器件的外部具体缺陷情况.
文献关键词：
电子元器件;缺陷检测;性能参数;图像处理技术
中图分类号：
作者姓名：
邓世江
作者机构：
南宁智卓专利代理事务所,广西南宁,530007
文献出处：
引用格式：
[1]邓世江-.电子元器件缺陷检测技术研究与开发)[J].电子测试,2022(08):35-37,31
A类：
元器件缺陷检测
B类：
电子元器件,研究与开发,检测参数,检测过程,麻烦,有时候,而外,外观缺陷检测,数只,人眼,人力物力,陷进,存在性,性能参数,数字图像处理技术,参数检测,检测原理,主要结构,结构与功能,图像分割,降噪处理,借助于,灰度共生矩阵,纹理特征,特征值计算,计算出来,预存,缺陷数据,体缺陷
AB值：
0.356527
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