典型文献
应力诱发压电薄膜晶内微裂纹演化的数值模拟
文献摘要：
压电薄膜的制备和使用过程中不可避免地引入微裂纹等微观缺陷.在不同的内在物理机制和外界驱动力作用下,微裂纹会出现多种多样的形貌演化行为,甚至失稳并发生分裂,影响相关微元器件的各种性能.本文基于表面扩散和蒸发-凝结的经典理论,对应力诱发表面扩散下PZT薄膜晶内微裂纹的演化进行数值模拟.结果表明,在应力作用下,存在临界应力载荷,当应力载荷小于或等于该临界值时,微裂纹演化为稳定的形态;当应力载荷大于该临界值时,微裂纹发生失稳并分裂为多个裂腔,且应力载荷或微裂纹初始形态比的增大均会促进微裂纹的失稳分裂.
文献关键词：
应力迁移;表面扩散;PZT薄膜;有限单元法;微裂纹
中图分类号：
作者姓名：
王永璞;黄佩珍
作者机构：
南京航空航天大学机械结构力学及控制国家重点实验室,江苏南京210016
文献出处：
引用格式：
[1]王永璞;黄佩珍-.应力诱发压电薄膜晶内微裂纹演化的数值模拟)[J].系统仿真技术,2022(02):81-84,108
A类：
初始形态比
B类：
压电薄膜,微裂纹,裂纹演化,入微,微观缺陷,物理机制,动力作用,多种多样,形貌演化,演化行为,微元,元器件,种性,表面扩散,经典理论,PZT,临界应力,应力迁移,有限单元法
AB值：
0.286629
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