典型文献
紧凑型大驱动周期干扰发生器设计
文献摘要：
为了降低目前的集成电路电磁干扰测试实验成本及风险,提出了一种可以对低阻抗集成电路芯片电源端进行周期性扰动的干扰发生电路.该电路使用低阻抗MOS管作为输出驱动,将多个MOS管连接到不同输出电压值的电源芯片上,使用FPGA控制这些MOS管的开关,能够产生具有一定频率与幅值的周期性扰动波形.以该电路结构制成的干扰器能以板卡的形式插到测试板上,用普通充电器即可供电,相对射频信号源加功率放大器这样的大型装备,其具有体积小、功耗低、操作简单、造价低,安全方便等特点.将干扰器接入用于等效低阻抗待测芯片的负载电路进行电磁干扰实验测试.测试结果表明,干扰器可以对电容值为50 pF,电阻值为10 Ω的低阻抗负载,在0～30 MHz范围内,产生约1 V的电压扰动,在30～80 MHz范围内,产生0.5～1 V的电压扰动.
文献关键词：
集成电路;电磁干扰;测试设备;大驱动;信号发生器
中图分类号：
作者姓名：
金大君;粟涛
作者机构：
中山大学电子与信息工程学院 广州510006
文献出处：
引用格式：
[1]金大君;粟涛-.紧凑型大驱动周期干扰发生器设计)[J].电子测量技术,2022(10):1-6
A类：
B类：
紧凑型,大驱动,集成电路,电磁干扰测试,测试实验,低阻抗,行周期,周期性扰动,MOS,输出驱动,接到,输出电压,电源芯片,FPGA,定频,电路结构,干扰器,板卡,插到,充电器,对射,射频信号源,功率放大器,大型装备,体积小,功耗,价低,负载电路,干扰实验,实验测试,电容值,pF,电阻值,MHz,电压扰动,测试设备,信号发生器
AB值：
0.388936
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
