典型文献
FPGA互连测试中的反馈桥接故障覆盖问题
文献摘要：
现场可编程门阵列(FPGA)内部资源众多,其中互连资源出现故障的概率远远高于片内其他资源,而在以往许多互连测试研究中,所生成的测试配置存在无法覆盖反馈桥接故障的难题,所以较难有测试配置实现故障列表的100％覆盖;因此通过约束桥接故障只发生在单个查找表(LUT)内的信号线上,并结合单项函数,对反馈桥接故障模型进行优化改进,从根本上解决难题;然后对优化后的反馈桥接故障设置相应的约束条件,再使用布尔可满足性理论(SAT)生成满足约束条件的测试配置;采用优化后的故障模型对ISCAS'89基准电路进行了测试配置生成实验,结果表明生成的测试向量解决了反馈桥接故障的覆盖难题,并且在实现故障列表的100％覆盖下,优化后的故障模型所需要的测试配置数最少.
文献关键词：
反馈桥接故障;FPGA;互连测试;应用相关测试;SAT
中图分类号：
作者姓名：
毛志明;张颖;姚嘉祺;华屹峰;杨济中;陈鑫
作者机构：
南京航空航天大学电子信息工程学院,南京 211100
文献出处：
引用格式：
[1]毛志明;张颖;姚嘉祺;华屹峰;杨济中;陈鑫-.FPGA互连测试中的反馈桥接故障覆盖问题)[J].计算机测量与控制,2022(04):23-28,49
A类：
互连测试,反馈桥接故障,应用相关测试
B类：
FPGA,现场可编程门阵列,内部资源,测试研究,所生,试配,覆盖反馈,列表,过约束,查找表,LUT,信号线,故障模型,优化改进,用布,布尔,SAT,ISCAS,测试向量
AB值：
0.24497
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