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基于BP神经网络的晶体管寿命预测研究
文献摘要：
针对晶体管的寿命预测问题,基于BP神经网络,提出了一种预测模型.该方法采用BP神经网络建立起了以漏电流ICEO为特征参数的剩余寿命预测模型.文章介绍了BP神经网络的寿命预测模型结构及建立的流程,并对建模过程中的关键点进行了分析,结合BT5551晶体管可靠性寿命后的测试数据验证了该方法的有效性.
文献关键词：
晶体管;BP神经网络;寿命预测;寿命特征参数
中图分类号：
作者姓名：
邱云峰;班元朗;陈林
作者机构：
贵州航天计量测试技术研究所,贵州 贵阳550025
文献出处：
引用格式：
[1]邱云峰;班元朗;陈林-.基于BP神经网络的晶体管寿命预测研究)[J].科学技术创新,2022(35):100-103
A类：
ICEO,BT5551,寿命特征参数
B类：
晶体管,预测研究,漏电流,剩余寿命预测模型,模型结构,可靠性寿命,测试数据,数据验证
AB值：
0.173528
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