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基于视点图像与EPI特征融合的光场超分辨率
文献摘要：
光场(Light Field,LF)成像能同时捕获场景中光线的空间信息和角度信息,应用广泛.然而,它的分辨率受到成像设备硬件以及空间和角度分辨率之间制衡的限制.过低的空间分辨率严重影响了光场图像的质量及其应用.因此,本文充分利用光场特性增强图像细节,提出一种基于视点图像(Viewpoint Image,VI)和极平面图像(Epipolar Plane Image,EPI)特征融合的端到端光场超分辨率方法,能够同时超分辨率所有视点图像.本方法将低分辨率光场图像按照水平和垂直EPI方向堆叠排列,利用三维视点图像堆栈中包含EPI信息的特点,采用双分支结构的3D递减卷积网络处理输入的四维光场数据.这样能够同时对视点图像和EPI信息进行特征提取和融合,充分探索光场的纹理信息及几何一致性.在真实和合成光场数据集上的实验结果均表明,该方法相比现有主流方法不仅在客观指标上具有更好的表现,主观质量上也能保持更好的几何一致性,同时还具有更少的模型参数和更快的执行速度.
文献关键词：
光场;超分辨率;极平面图像;双分支结构
中图分类号：
作者姓名：
安平;陈欣;陈亦雷;黄新彭;杨超
作者机构：
新型显示技术及应用集成教育部重点实验室,上海先进通信与数据科学研究院,上海大学通信与信息工程学院,上海200444
文献出处：
引用格式：
[1]安平;陈欣;陈亦雷;黄新彭;杨超-.基于视点图像与EPI特征融合的光场超分辨率)[J].信号处理,2022(09):1818-1830
A类：
极平面图像,Epipolar,三维视点
B类：
EPI,特征融合,超分辨率,Light,Field,LF,光线,空间信息,角度信息,成像设备,制衡,空间分辨率,光场图像,利用光,增强图像,Viewpoint,Image,VI,Plane,端到端,低分辨率,堆叠,堆栈,双分支结构,卷积网络,四维,对视,纹理信息,几何一致性,主流方法,客观指标,执行速度
AB值：
0.287743
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