典型文献
集成电路X射线图像的多正则化图像复原
文献摘要：
针对集成电路X射线图像噪声强烈、对比度低的特点,本文充分考虑图像边缘细节和平滑区域在细节保持和噪声去除上的不同需求,提出一种多正则化图像复原方法.该方法基于快速傅里叶变换下的高斯高通滤波和高斯低通滤波获取集成电路X射线图像的边缘细节结果和平滑滤波结果作为正则化图像复原的观测图像,充分利用l1正则项在细节保持以及全变分(Total Variation,TV)正则项在噪声去除上的优越性设计了一种TV-l1混合正则化模型,解决整幅图像采用单一正则化项造成的细节过度平滑缺失或去噪效果差的问题.标准自然光图像和集成电路的X射线图像两个系列的实验表明了本文方法能够在有效去除噪声的同时保留更多的细节信息,为后续集成电路的缺陷检测奠定基础.
文献关键词：
图像复原;多正则化;傅里叶变换
中图分类号：
作者姓名：
马鸽;林森;李致富;赵志甲;邹涛
作者机构：
广州大学机械与电气工程学院,广东广州510006
文献出处：
引用格式：
[1]马鸽;林森;李致富;赵志甲;邹涛-.集成电路X射线图像的多正则化图像复原)[J].光学精密工程,2022(22):2913-2922
A类：
多正则化
B类：
集成电路,图像复原,图像噪声,声强,对比度,图像边缘,边缘细节,细节保持,噪声去除,复原方法,快速傅里叶变换,换下,高通滤波,高斯低通滤波,节结,平滑滤波,l1,正则项,全变分,Total,Variation,TV,混合正则化,正则化模型,整幅,一正,去噪效果,准自然,自然光,除噪声,细节信息,续集,缺陷检测
AB值：
0.359771
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