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典型文献
采用薄靶方法测量低能电子致Al,Ti,Cu,Ag,Au元素K壳层电离截面与L壳层特征X射线产生截面
文献摘要:
使用5—27keV能量范围内的单能电子束轰击薄碳衬底上的薄Al(Z=13),Ti(Z=22),Cu(Z=29),Ag(Z=47),Au(Z=79)靶,使用硅漂移型探测器(SDD)收集产生的特征X射线,测量了Al,Ti,Cu的K壳层电离截面以及Cu,Ag和Au的L壳层特征X射线的产生截面,并且使用蒙特卡罗PENELOPE程序对实验结果进行了修正.本文给出了Cu的L壳层特征X射线产生截面.与半相对论扭曲波玻恩近似(semi-relati-vistic distorted-wave Born approximation,DWBA)理论值相比,本文的大多数实验值在7%的范围内与理论值符合.研究表明,中重元素的L壳电离截面的理论计算以及相应的原子参数有待更精确的确定.
文献关键词:
原子内壳层电离;特征X射线;截面;蒙特卡罗模拟
作者姓名:
李博;李玲;朱敬军;林炜平;安竹
作者机构:
四川大学,原子核科学技术研究所,辐射物理及技术教育部重点实验室,成都 610064
文献出处:
引用格式:
[1]李博;李玲;朱敬军;林炜平;安竹-.采用薄靶方法测量低能电子致Al,Ti,Cu,Ag,Au元素K壳层电离截面与L壳层特征X射线产生截面)[J].物理学报,2022(17):141-152
A类:
27keV,PENELOPE,玻恩近似,relati,vistic,原子内壳层电离
B类:
靶方,Ti,Ag,Au,产生截面,电子束,轰击,衬底,漂移,探测器,SDD,相对论,semi,distorted,wave,Born,approximation,DWBA,理论值,重元素,蒙特卡罗模拟
AB值:
0.328123
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