典型文献
熔石英元件小尺寸集群损伤修复及检测技术(特邀)
文献摘要：
针对现有小尺寸集群损伤修复及检测技术仍不完善的问题,重点研究亚表面缺陷多模态原位检测方法,从损伤样件表面损伤数量和尺寸、典型小尺寸损伤的形貌、光热吸收、荧光面积等多项指标进行了系统测量和分析,并开展了磁流变修复研究.研究结果表明:熔石英小尺寸损伤内部的吸收性杂质是影响元件性能的主要因素,在磁流变缎带接触到损伤底部前,损伤的整体吸收和荧光分布呈上升趋势;高重频激光对磁流变修复后的损伤辐照过程是一个由慢变快、由杂质到本体、由边缘逐渐向外扩张的过程,能够有效对磁流变修复后的表面进一步起到修复作用,可作为组合修复工艺的第三道工序.研究结果对光学元件检测表征体系的构建提供参考.
文献关键词：
光学工程;熔石英;集群损伤;损伤修复;多模态检测
中图分类号：
作者姓名：
石峰;乔硕;邓明杰;宋辞;铁贵鹏;田野;郝群;王姗姗;周海峰;陈坚;孙国燕;申箫
作者机构：
国防科技大学智能科学学院,湖南长沙410073;北京理工大学光电学院,北京100081;合肥知常光电科技有限公司,安徽合肥230000
文献出处：
引用格式：
[1]石峰;乔硕;邓明杰;宋辞;铁贵鹏;田野;郝群;王姗姗;周海峰;陈坚;孙国燕;申箫-.熔石英元件小尺寸集群损伤修复及检测技术(特邀))[J].红外与激光工程,2022(09):47-57
A类：
集群损伤,多模态检测
B类：
熔石英元件,小尺寸,损伤修复,特邀,亚表面缺陷,原位检测,样件,表面损伤,光热,荧光面积,系统测量,磁流变,变修,吸收性,缎带,触到,体吸收,高重频,辐照,照过,变快,修复作用,修复工艺,第三道,道工序,光学元件,元件检测,光学工程
AB值：
0.376243
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