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钯金属薄膜制备方法的研究现状与进展
文献摘要：
近年来,钯金属薄膜由于具有电阻率低和催化活性高等优异性能引起人们的广泛关注,钯及其合金薄膜在集成电路互连应用、氢传感、储氢和催化方面获得了越来越多科研工作者的兴趣.目前已有诸多制备钯金属薄膜的研究,本文重点介绍了利用物理气相沉积技术、化学气相沉积技术、原子层沉积技术以及等离子体辅助原子层沉积技术制备钯薄膜的研究现状,讨论了各种制备方法的优缺点,对所使用的前驱体作了总结,并展望了钯薄膜制备技术未来发展趋势.
文献关键词：
Pd金属薄膜;物理气相沉积;化学气相沉积;原子层沉积
中图分类号：
作者姓名：
王冬远;周甜;陈强;刘忠伟
作者机构：
北京印刷学院 等离子体物理与材料研究室,北京102600
文献出处：
引用格式：
[1]王冬远;周甜;陈强;刘忠伟-.钯金属薄膜制备方法的研究现状与进展)[J].真空,2022(05):7-13
A类：
B类：
金属薄膜,薄膜制备,制备方法,研究现状与进展,电阻率,催化活性,优异性能,金薄膜,集成电路,互连,储氢,科研工作,物理气相沉积,沉积技术,化学气相沉积,原子层沉积,前驱体,制备技术,Pd
AB值：
0.285963
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