典型文献
LTCC厚膜电阻尺寸效应研究
文献摘要：
厚膜电阻的阻值与膜层厚度密切相关.文中研究了低温共烧陶瓷(Low Temperature Co-fired Ceramic,LTCC)厚膜电阻尺寸对印制电阻膜厚和阻值的影响.结果显示,用同一印刷网版、同一方阻标称值浆料印制电阻时,不同尺寸的电阻得到不同的膜厚和实际方阻值.电阻尺寸越小,所印制电阻越厚,电阻方阻越小;电阻尺寸越大,电阻方阻越大,但方阻增大趋势减慢.对电阻尺寸影响印制膜层厚度的原因进行了分析,电阻的端头电极和网版乳胶层对不同尺寸电阻的印制膜厚有不同的影响.对于不同尺寸的厚膜电阻,其干膜厚度与方阻的乘积为具有较小标准偏差的常数.
文献关键词：
LTCC;印制;厚膜电阻;膜厚;方阻;电阻率
中图分类号：
作者姓名：
李建辉;沐方清;吴建利
作者机构：
中国电子科技集团公司第四十三研究所,安徽合肥 230088;微系统安徽省重点实验室,安徽合肥 230088
文献出处：
引用格式：
[1]李建辉;沐方清;吴建利-.LTCC厚膜电阻尺寸效应研究)[J].中国电子科学研究院学报,2022(04):398-403
A类：
厚膜电阻
B类：
LTCC,尺寸效应,阻值,膜层厚度,中研,低温共烧陶瓷,Low,Temperature,Co,fired,Ceramic,印制,电阻膜,印刷网,方阻,标称,浆料,不同尺寸,减慢,端头,乳胶,胶层,膜厚度,乘积,标准偏差,电阻率
AB值：
0.304065
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