典型文献
计算机片外Flash故障的研究
文献摘要：
某产品计算机在低温测试过程中出现片外Flash故障,通过对芯片读写状态的分析,发现在低温状态下,芯片复位不充分产生的故障,深层次地分析Flash芯片的工作模式,利用冗余读操作,启动芯片内部状态机的运行,使芯片再次复位,解决此故障.
文献关键词：
存储器;自检
中图分类号：
作者姓名：
叶心波;李健;王前程
作者机构：
中国空空导弹研究院
文献出处：
引用格式：
[1]叶心波;李健;王前程-.计算机片外Flash故障的研究)[J].计量与测试技术,2022(01):57-59
A类：
B类：
Flash,某产品,低温测试,试过,读写,复位,内部状态,状态机,存储器,自检
AB值：
0.478558
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
