典型文献
某型DSP芯片指标测试设计与实现
文献摘要：
该文针对一款兼容SMJ320C6701-SP的DSP芯片进行各项指标测试系统的设计.使用LabVIEW进行上位机的测试平台程序编写,实现了对DSP芯片指标的单次测试和连续测试,同时实现了实时显示数据曲线、自动存储数据等功能.采用CCStudio v3.3软件进行算法的编程,实现运算性能、读写时序特性等指标的测试.实际应用结果表明,该文设计的测试系统完全可以实现该类型DSP芯片性能指标的测试.测试数据中监测芯片温升测试误差小于1℃,且该测试系统具有很好的人机交互界面,简化了繁琐的测试操作和测试过程,提高了芯片的测试质量与测试效率.
文献关键词：
芯片测试;LabVIEW;运算性能;DSP芯片
中图分类号：
作者姓名：
聂聪聪;李永红;岳凤英
作者机构：
中北大学仪器与电子学院,太原030051;中北大学 电气与控制工程学院,太原030051
文献出处：
引用格式：
[1]聂聪聪;李永红;岳凤英-.某型DSP芯片指标测试设计与实现)[J].自动化与仪表,2022(11):1-6
A类：
SMJ320C6701,CCStudio
B类：
DSP,指标测试,测试设计,测试系统,LabVIEW,上位机,测试平台,程序编写,次测试,实时显示,数据曲线,v3,运算性能,读写,时序特性,测试数据,温升测试,测试误差,人机交互界面,试过,测试质量,测试效率,芯片测试
AB值：
0.403604
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