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国产ARM架构芯片的Trace调试数据解析研究
文献摘要：
Trace调试技术是一种非侵入式的、需要硬件支持的调试技术.该技术需要设置监视点,在监视点触发时将当前调试信息存入缓冲区中,以便程序运行后读取并解析这些数据,从而分析监视点触发时程序的运行状态.然而,目前片上Trace技术使用的协议不同,对Trace数据的处理也不同.本文针对ARM架构的国产芯片FT-2000/4提出一种新的Trace数据解析办法,为集成开发环境提供Trace功能方面的支持.
文献关键词：
Trace;FT-2000/4;CoreSight;数据解析
中图分类号：
作者姓名：
张淡墨;张激;肖伟强
作者机构：
中国电子科技集团第三十二研究所,上海201808
文献出处：
引用格式：
[1]张淡墨;张激;肖伟强-.国产ARM架构芯片的Trace调试数据解析研究)[J].单片机与嵌入式系统应用,2022(07):55-58
A类：
CoreSight
B类：
ARM,Trace,数据解析,解析研究,调试技术,非侵入式,监视,视点,调试信息,存入,缓冲区,程序运行,读取,时程,技术使用,国产芯片,FT,集成开发环境
AB值：
0.394549
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