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高通量研磨-X射线荧光光谱法测定不同植源性食品中硒含量
文献摘要：
为了提高食品的样品检验效率,采用高通量研磨制备样品,利用X射线荧光光谱法对食品中硒含量进行检测.重点研究了样品含水率、样品颗粒粒径、研磨条件、检测条件等因素对检测结果的影响.结果表明:样品干基含水量小于20％,样品颗粒粒径小于100pm;高通量研磨条件为装样量3 g,频率30 Hz,研磨3 min;高精度X射线荧光光谱仪检测条件为检装样量0.2 g,PP膜压紧,检测90 s时的情况下,硒的检出限0.01 mg/kg,仪器的精密度小于5％,与粉碎法进行对比,相对偏差在-10.37％～8.05％.说明高通量研磨-X射线荧光光谱法检测食品中硒含量的方法快速、准确,可以满足批量样品现场检测分析需求.
文献关键词：
高通量研磨;X射线荧光光谱法;样品颗粒粒径;装样量
中图分类号：
作者姓名：
卢丽娟;孙萌;寇笑然;张云霞;孙影;王逸慧;万璐瑶;王增辉;陈岚
作者机构：
西北农林科技大学园艺学院,陕西杨凌712100;河北农业大学理工学院分析测试中心,河北沧州061100;西安佳谱电子科技有限公司,西安710000
文献出处：
引用格式：
[1]卢丽娟;孙萌;寇笑然;张云霞;孙影;王逸慧;万璐瑶;王增辉;陈岚-.高通量研磨-X射线荧光光谱法测定不同植源性食品中硒含量)[J].中国无机分析化学,2022(05):86-91
A类：
高通量研磨,样品颗粒粒径,100pm,装样量
B类：
荧光光谱法,硒含量,品检,检验效率,磨制,备样,检测条件,干基,光谱仪,PP,压紧,检出限,精密度,粉碎,相对偏差,现场检测,检测分析
AB值：
0.15403
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