典型文献
粉末压片-X射线荧光光谱法测定含碳化硅铝质耐火材料中8种组分
文献摘要：
含碳化硅耐火材料已广泛地应用于冶金炉料中,目前对含碳化硅耐火材料测定常采用湿法分析,然而这些方法繁琐耗时,不适合大批量检测要求.实验采用聚酯(PET)薄膜包裹粉末压片法制样,以微晶纤维素为粘结剂,选取与待测试样粒度一致、基体相似、各成分含量有梯度的铝硅系耐火材料标准样品和碳化硅标准样品,按照不同的比例,配制成各组分含量从低到高具有一定梯度含碳化硅铝质耐火材料校准样品,对其拟合校准曲线,建立了 X射线荧光光谱法(XRF)同时测定含碳化硅铝质耐火材料中TSi、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、P2O5、K2O含量的快速分析方法.采用PET薄膜包裹压片不仅减少粉尘污染,把对仪器损坏的几率降到了最低,而且可以防止压片暴露在空气中,增加压片保存时间.对含碳化硅铝质耐火材料试样进行了精密度考察,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.08％～3.7％.采用实验方法对合成含碳化硅铝质耐火材料校准样品(未用于校准曲线绘制)和实际样品进行测定,结果与参考值或国标方法的分析值相吻合.
文献关键词：
聚酯(PET)薄膜;碳化硅;铝质耐火材料;X射线荧光光谱法(XRF);粉末压片法
中图分类号：
作者姓名：
张蕾;陈宁娜;许超
作者机构：
中冶武汉冶金建筑研究院有限公司,湖北武汉430080;中冶耐火材料检测中心,湖北武汉430080
文献出处：
引用格式：
[1]张蕾;陈宁娜;许超-.粉末压片-X射线荧光光谱法测定含碳化硅铝质耐火材料中8种组分)[J].冶金分析,2022(06):51-56
A类：
铝质耐火材料,TSi
B类：
荧光光谱法,含碳,碳化硅,硅铝,冶金,炉料,定常,湿法,大批量,批量检测,检测要求,聚酯,PET,粉末压片法,制样,微晶纤维素,粘结剂,基体相,成分含量,材料标准,标准样品,组分含量,合校,校准曲线,XRF,同时测定,Fe2O3,Al2O3,CaO,MgO,TiO2,P2O5,K2O,快速分析,粉尘污染,几率,保存时间,精密度,组分测定,测定结果,相对标准偏差,RSD,实验方法,未用,参考值,国标方法,相吻合
AB值：
0.251493
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