典型文献
粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定直接还原铁中6种组分
文献摘要：
直接还原铁中的Si、Al、P、Mg、Ca和S等杂质元素对钢的质量有重要影响,目前一般采用化学湿法分析和熔融制样-X射线荧光光谱法检测,程序相对繁琐.为缩短检测周期,研究采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定直接还原铁中SiO2、Al2O3、P、MgO、CaO和S,通过试验确定将淀粉作为粘结剂,在7.000 0 g样品中加入0.350 0 g淀粉,研磨120 s混匀并使其粒度小于0.074 mm,于30 t压力下压制成片.选取与待测试样组成、结构及粒度相似的具有一定梯度含量的直接还原铁标准样品/校准样品建立校准曲线,SiO2、Al2O3、P、MgO、CaO和S校准曲线的线性相关系数分别为0.999、0.998、0.992、0.995、0.997和0.999.按照实验方法测定直接还原铁中SiO2、Al2O3、P、MgO、CaO和S,结果的相对标准偏差(RSD,n=11)分别为0.014％、0.030％、0.076％、0.009％、0.026％和0.047％;分别采用实验方法与国家标准方法测定直接还原铁中SiO2、Al2O3、P、MgO、CaO和S,结果相一致.方法满足进口直接还原铁样品的快速检测要求.
文献关键词：
直接还原铁;粉末压片;波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF);二氧化硅;三氧化二铝;磷;氧化镁;氧化钙;硫
中图分类号：
作者姓名：
付亚凤;赵超;刘双龙;艾连峰
作者机构：
石家庄海关技术中心曹妃甸业务部,河北唐山063205;石家庄海关技术中心,河北石家庄050011
文献出处：
引用格式：
[1]付亚凤;赵超;刘双龙;艾连峰-.粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定直接还原铁中6种组分)[J].冶金分析,2022(07):76-81
A类：
B类：
粉末压片制样,色散,荧光光谱法,直接还原铁,杂质元素,湿法,熔融制样,SiO2,Al2O3,MgO,CaO,定将,粘结剂,研磨,混匀,下压,压制,成片,铁标,标准样品,校准曲线,线性相关系数,照实,实验方法,相对标准偏差,RSD,国家标准方法,相一致,快速检测,检测要求,WDXRF,二氧化硅,三氧化二铝,氧化镁,氧化钙
AB值：
0.239185
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