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典型文献
粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定白刚玉中杂质组分
文献摘要:
杂质含量是判定白刚玉质量等级的重要依据,因此准确快速测定白刚玉中杂质含量具有重要意义.目前,白刚玉中杂质含量的测定常采用湿法分析,然而这些方法繁琐耗时、分析周期长,不适合大批量检测要求.实验采用乙醇为粘接剂,聚酯(PET)薄膜包裹粉末压片法制样,以棕刚玉、白刚玉、氧化铝标准样品按照不同的比例,配制成各检测组分含量从低到高具有一定梯度的白刚玉校准样品,对其拟合校准曲线,建立了X射线荧光光谱法(X R F)同时测定白刚玉中SiO2、CaO、Fe2O3、K2O、Na2O、TiO2、P2O5含量的分析方法.通过人工配制白刚玉校准样品,使检测范围更接近白刚玉杂质组分含量范围,解决了白刚玉标准样品少的技术问题.引入PET薄膜到X射线荧光光谱压片法中来不仅可以减少粉尘污染,把对仪器损坏的几率降至最低,而且还可以防止压片暴露在空气中,增加了压片保存时间.通过试验确定的制样条件为:试样研磨通过400目(38 μm)筛,压片机压力为3.0 t,保压时间为30 s.采用OXSAS软件自带的TL+方程进行基体效应校正,校准曲线线性相关系数均大于0.99,各组分检出限在3.7~27 μg/g之间.对白刚玉试样进行了精密度考察,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)在1.7%~4.5%之间.采用实验方法对白刚玉标准样品和实际样品进行测定,结果与参考值或标准方法GB/T 3044-2020的测定值相吻合.
文献关键词:
聚酯(PET)薄膜;X射线荧光光谱法(XRF);粉末压片法;白刚玉;杂质
作者姓名:
张蕾
作者机构:
中冶武汉冶金建筑研究院有限公司,湖北武汉430080
文献出处:
引用格式:
[1]张蕾-.粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定白刚玉中杂质组分)[J].冶金分析,2022(04):8-13
A类:
OXSAS,TL+
B类:
粉末压片制样,荧光光谱法,白刚玉,杂质含量,玉质,质量等级,准确快速测定,定常,湿法,大批量,批量检测,检测要求,粘接剂,聚酯,PET,粉末压片法,棕刚玉,氧化铝,标准样品,组分含量,合校,校准曲线,同时测定,SiO2,CaO,Fe2O3,K2O,Na2O,TiO2,P2O5,检测范围,粉尘污染,几率,保存时间,样条,研磨,压片机,机压,保压时间,自带,基体效应,线性相关系数,分检,检出限,精密度,组分测定,测定结果,相对标准偏差,RSD,实验方法,参考值,标准方法,测定值,相吻合,XRF
AB值:
0.297878
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