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基于离子阱质谱的离子碰撞截面积测量方法研究进展
文献摘要:
近年来,随着分子结构分析需求的不断增加,开发离子阱质量分析器测量离子碰撞截面积的方法成为研究热点.该方法能降低仪器复杂度,并且能同时获得高分辨的质量和分子立体结构信息,逐渐成为与离子淌度谱(I M S)互补的测量碰撞截面积的有效手段.目前,已经实现了傅里叶变换离子回旋共振阱(FT-ICR)、轨道离子阱(Orbitrap)、四极离子阱(QIT)、静电线性离子阱(ELIT)测量离子碰撞截面积(CCS).但该项技术仍存在诸多挑战,如分辨率不高、受气压因素影响、无法区分同分异构体等.本文阐述了离子与缓冲气体分子碰撞理论、不同离子阱质谱仪测量碰撞截面积的方法,并总结测量方法的优缺点,展望未来的研究方向.
文献关键词:
离子阱;碰撞截面积(CCS);离子淌度谱(IMS)
中图分类号:
作者姓名:
向玉;姜婷;徐伟
作者机构:
北京理工大学生命学院,北京 100084
文献出处:
引用格式:
[1]向玉;姜婷;徐伟-.基于离子阱质谱的离子碰撞截面积测量方法研究进展)[J].质谱学报,2022(05):611-622
A类:
ELIT
B类:
离子阱质谱,截面积,面积测量,分子结构,质量分析器,立体结构,结构信息,离子淌度,傅里叶变换,回旋,FT,ICR,Orbitrap,四极,QIT,电线,CCS,受气,同分异构体,缓冲气体,气体分子,分子碰撞,碰撞理论,同离子,质谱仪,展望未来,IMS
AB值:
0.368153
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