典型文献
防雷芯片电性能测试及外观分选一体机的研制
文献摘要：
针对防雷用压敏电阻芯片电性能及外观检测项目多、周转过程中芯片表面易二次损伤、检测效率低等问题,文章研制了一款电性能测试及外观分选一体机.该设备可实现芯片自动上料,兼容不同尺寸芯片电性能在线测试分选、芯片正反两面及四周外观检测分选合格品自动吸塑盒包装,有效减少了生产周转工序,提高了芯片检测分选的准确率和效率,适用于防雷用大尺寸方形芯片检测,具有良好的经济效益.
文献关键词：
氧化锌压敏电阻;电性能测试;外观检测;上下料机构;顶升筛分机构
中图分类号：
作者姓名：
俞兴华
作者机构：
厦门赛尔特电子有限公司,福建 厦门 361100
文献出处：
引用格式：
[1]俞兴华-.防雷芯片电性能测试及外观分选一体机的研制)[J].企业科技与发展,2022(11):27-29
A类：
氧化锌压敏电阻,上下料机构,顶升筛分机构
B类：
防雷,电性能测试,分选,一体机,外观检测,检测项目,周转,转过,二次损伤,检测效率,自动上料,不同尺寸,在线测试,正反两面,四周,合格品,转工,芯片检测,大尺寸,方形
AB值：
0.25955
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