典型文献
基于故障混叠度的模拟电路测点多目标选择
文献摘要：
模拟电路可测性设计中的测试节点选择方法通常使用一个电压阈值来确定所有故障的模糊程度,但实际上不同的故障需要的电压阈值是不同的.针对电压阈值设定问题,提出了一种基于聚类的故障混叠度计算方法,用于度量故障间的模糊程度.在此基础上,设计了 一种模拟电路多目标测点选择方法,用于平衡测点数和隔离的故障数量之间的关系,以在尽可能少的测点数量下获得最大的故障隔离数.首先,利用小波包变换提取模拟信号特征;然后,通过聚类计算不同故障间的混叠度;最后,以故障隔离度和测点数量为目标,采用非支配排序遗传算法(NS-GA-II)搜索测点集,实现模拟电路的测点选择.实验结果表明,相较于现有的测点选择方法,该方法在测点数量尽可能少的情况下可以获得最大的故障隔离数,实现了测点的优选.
文献关键词：
模拟电路;测点选择;聚类;小波包变换;遗传算法
中图分类号：
作者姓名：
张永超;尤枫;王微微;赵瑞莲;尚颖
作者机构：
北京化工大学信息科学与技术学院,北京100029
文献出处：
引用格式：
[1]张永超;尤枫;王微微;赵瑞莲;尚颖-.基于故障混叠度的模拟电路测点多目标选择)[J].微电子学与计算机,2022(09):80-88
A类：
B类：
模拟电路,路测,多目标选择,可测性设计,节点选择,选择方法,模糊程度,标测,测点选择,尽可能少,测点数量,故障隔离,小波包变换,取模,模拟信号,信号特征,隔离度,非支配排序遗传算法,NS,GA,II,点集
AB值：
0.278508
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