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典型文献
基底温度对氧化铂薄膜结构与催化性能的影响
文献摘要:
氧化铂电极是安全壳内置氢浓度监测传感器的重要元件,因其力学和电催化性不足而使氢传感器处于瓶颈,限制了我国AP1000技术的全面国产化.采用反应磁控溅射法在铂基材上成功制备出氧化铂薄膜电极,并探究了不同基底温度对薄膜组成、形貌及电催化性能的影响.结果表明,在Ar/50%O2溅射气氛下可获得由PtO和PtO2组成的氧化铂薄膜.随着温度由室温(RT)升至200℃时,非晶态薄膜中氧空位逐渐被修复并转化为晶态,形成具有三维纳米枝晶状、分布均匀、无裂纹的薄膜,其PtO2占比提高,电化学活性面积(ECSA)增加,稳定性及氢还原性提高;而随着温度升至400℃时,薄膜中氧空位浓度大幅降低,平均晶粒尺寸进一步增加,PtO2逐步分解为PtO和Pt,ECSA减小,稳定性及氧还原活性降低.
文献关键词:
磁控溅射;氧化铂;微观结构;电催化性能
作者姓名:
沈月;李思勰;唐玲;王传军;许彦亭;闻明
作者机构:
贵研铂业股份有限公司,云南昆明650106;昆明贵研催化剂有限责任公司,云南昆明650000
引用格式:
[1]沈月;李思勰;唐玲;王传军;许彦亭;闻明-.基底温度对氧化铂薄膜结构与催化性能的影响)[J].稀有金属材料与工程,2022(09):3466-3472
A类:
氧化铂
B类:
基底温度,铂薄膜,薄膜结构,铂电极,安全壳,内置,置氢,氢浓度,氢传感器,AP1000,国产化,反应磁控溅射,磁控溅射法,基材,上成,薄膜电极,电催化性能,Ar,PtO2,非晶态,晶态薄膜,氧空位,维纳,枝晶,晶状,无裂纹,电化学活性,ECSA,氢还原,还原性,平均晶粒尺寸,寸进,氧还原
AB值:
0.343504
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