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CMOS成像式亮度计的暗电流校准方法
文献摘要：
器件自身存在的暗电流,会导致CMOS成像式亮度计的亮度测量结果产生误差.因此,提出一种CMOS成像式亮度计的暗电流校准方法.通过分析不同程控参数下暗幅图像灰度值变化情况,确定成像式亮度计的程控参数;在此基础上,采集图像灰度值和标准亮度值,建立亮度测量模型.将校准后的成像式亮度计应用在手柄发光字符的亮度检测上,结果表明,成像式亮度计的亮度测量误差在5％以内,满足实际工业测量需求.
文献关键词：
成像式亮度计;CMOS;暗电流;校准;误差
中图分类号：
作者姓名：
李娜;宫玉琳;张鹏
作者机构：
长春理工大学 电子信息工程学院,长春 130022
文献出处：
引用格式：
[1]李娜;宫玉琳;张鹏-.CMOS成像式亮度计的暗电流校准方法)[J].长春理工大学学报（自然科学版）,2022(01):59-64
A类：
成像式亮度计,发光字
B类：
CMOS,暗电流,校准方法,自身存在,灰度值,采集图像,测量模型,将校,手柄,字符,亮度检测,测量误差,工业测量
AB值：
0.180864
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