典型文献
利用相机响应曲线实现高反光元件三维面形测量
文献摘要：
在先进制造中要求对加工的部组件进行在线质量检测,条纹投影三维测量技术因符合在线、非接触的要求而被采用.然而,金属材质表面反射率差异较大会导致拍摄结构光图像过曝和欠曝光,这会造成最终测量数据的缺失或出错.针对该问题,以直接测量得到的不完整点云数据和由计算机辅助设计(CAD)得到的元件设计数据进行迭代最近点(ICP)点云配准,进而得到相机坐标系下的被测物体估算面形的点云数据.将该数据作为预估面形,结合系统标定参数,可建立投影与成像间同名点的图像强度对应关系.利用相机对待测元件上每一点的光强成像响应曲线计算出投影灰度范围和最低投影灰度.最后,利用生成的非等值系数投影光栅进行高反光元件的三维形貌测量.实验结果表明,所提方法在不改变测量系统结构参数和不增加测量系统结构复杂性的情况下,可以更完整地实现高反光元件的三维面形测量.
文献关键词：
测量;工业检测;高反光元件;条纹投影;相机响应曲线
中图分类号：
作者姓名：
李乾;薛俊鹏;张启灿;王敏;王亚军
作者机构：
四川大学电子信息学院,四川成都610065;四川大学空天科学与工程学院,四川成都610065
文献出处：
引用格式：
[1]李乾;薛俊鹏;张启灿;王敏;王亚军-.利用相机响应曲线实现高反光元件三维面形测量)[J].光学学报,2022(07):132-143
A类：
高反光元件
B类：
相机响应曲线,三维面形测量,先进制造,线质量,质量检测,条纹投影,三维测量技术,非接触,金属材质,反射率,结构光,曝光,测量数据,出错,直接测量,整点,点云数据,计算机辅助设计,CAD,迭代最近点,ICP,点云配准,坐标系,系统标定,标定参数,同名点,线计算,灰度,等值,光栅,三维形貌测量,测量系统,系统结构,整地,工业检测
AB值：
0.336143
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