典型文献
一种基于双目结构光的光学元件精磨表面面形测量方法
文献摘要：
光学加工过程中,粗磨与精磨阶段材料去除量最大,而抛光阶段的材料去除量则小很多,因此若对粗精磨表面进行精确全场测量将极大缩短加工过程.在现有测量手段中,三坐标机和红外干涉仪存在价格昂贵或效率不高问题.将光学三维传感方法中的双目结构光技术用于光学加工过程,实现了对光学元件粗精磨表面的无接触、全场、快速高精度测量.实验结果表明所提方法切实可行,测量误差小于10 μm,对加工过程中切削加工量的快速精确测量具有应用价值.
文献关键词：
三维测量;双目视觉;光学加工;精磨;三频相位展开
中图分类号：
作者姓名：
雷冲;刘元坤
作者机构：
四川大学电子信息学院,四川成都610065
文献出处：
引用格式：
[1]雷冲;刘元坤-.一种基于双目结构光的光学元件精磨表面面形测量方法)[J].光学与光电技术,2022(01):14-20
A类：
三频相位展开
B类：
双目结构光,光学元件,精磨,面形测量,光学加工,加工过程,材料去除,去除量,抛光,全场,三坐标,红外干涉,干涉仪,价格昂贵,效率不高,三维传感,传感方法,结构光技术,无接触,高精度测量,测量误差,中切,切削加工,加工量,精确测量,三维测量,双目视觉
AB值：
0.410895
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