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真空紫外辐照对交联乙烯-四氟乙烯线缆的影响
文献摘要：
以航天器舱外用交联乙烯-四氟乙烯共聚物(X-ETFE)线缆为试验对象,采用5倍加速因子对X-ETFE线缆累计进行了8000等效太阳小时(ESH)真空紫外(VUV)辐照,并通过极限耐电压、绝缘材料电阻测试分析X-ETFE线缆电性能,采用FTIR和SEM表征X-ETFE材料分子结构和微观形貌,以此研究不同VUV辐照时间对X-ETFE线缆的影响.试验结果表明,随着VUV辐照时间的增加,材料表面累积了碳而发生暗化,线缆外观颜色逐渐变为深棕色;X-ETFE线缆的极限耐压和绝缘电阻呈总体下降趋势,但整体电性能水平未发生本质变化;X-ETFE材料在1628 cm?1处的吸收峰逐步增大,说明X-ETFE材料分子链中的?C=C?自由基团随辐照时间而增多,致使材料表面出现了微裂纹现象.
文献关键词：
交联乙烯-四氟乙烯线缆;真空紫外辐照;极限耐电压;绝缘电阻;微观结构
中图分类号：
作者姓名：
张海明;张义;贾晓;王凯;陶兆增;沈世钊;王海玉
作者机构：
中国航天宇航元器件工程中心,北京100029;中国电子科技集团公司第二十三研究所,上海201900
文献出处：
引用格式：
[1]张海明;张义;贾晓;王凯;陶兆增;沈世钊;王海玉-.真空紫外辐照对交联乙烯-四氟乙烯线缆的影响)[J].强激光与粒子束,2022(11):94-99
A类：
真空紫外辐照,极限耐电压
B类：
交联,四氟乙烯,线缆,航天器,外用,乙烯共聚物,ETFE,倍加,加速因子,ESH,VUV,绝缘材料,电阻测试,测试分析,电性能,FTIR,分子结构,微观形貌,辐照时间,深棕色,耐压,绝缘电阻,生本,吸收峰,基团,微裂纹
AB值：
0.254678
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