典型文献
LDO失效分析及改善
文献摘要:
低压差线性稳压器(Low Dropout Regulator,LDO)新品导入中,过强的铜线焊接会使焊球下芯片层间电介质层(Interlayer Dielectric,ILD)产生裂纹,从而导致器件测试漏电流失效或可靠性失效.通过对芯片结构的分析,指出LDO漏电流失效的原因,同时详细讨论了如何确定合理的铜线焊接参数、如何检测失效以及失效分析步骤.
文献关键词:
低压差线性稳压器;铜线焊接;漏电流失效;可靠性;ILD层裂纹
中图分类号:
作者姓名:
胡敏
作者机构:
乐山无线电股份有限公司,四川乐山614000
文献出处:
引用格式:
[1]胡敏-.LDO失效分析及改善)[J].电子与封装,2022(01):27-30
A类:
铜线焊接,漏电流失效
B类:
LDO,失效分析,低压差线性稳压器,Low,Dropout,Regulator,新品,焊球,片层,电介质,Interlayer,Dielectric,ILD,器件测试,试漏,焊接参数,检测失效,分析步骤,层裂
AB值:
0.313438
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