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紫外可见漫反射光谱和Tauc plot方法分析无机Ruddlesden-Popper钙钛矿带隙
文献摘要：
半导体在当今社会中扮演着举足轻重的作用,在大学物理实验教学中,让学生能够深入理解半导体的带隙性质和测量方法有着重要的意义.紫外可见漫反射光谱方法是一种简便易行的确定半导体的带隙以及能带结构的方法.本文使用紫外-可见漫反射光谱以及Tauc Plot方法确定Ruddlesden-Popper半导体钙钛矿Srn+1 Tin O3n+1(n=1,2,3,∞)的带隙,并讨论了Tauc plot公式在透射和反射情形下的应用.
文献关键词：
Ruddlesden-Popper层状钙钛矿;紫外可见漫反射光谱;带隙分析
中图分类号：
作者姓名：
王集锦;普文冉;马骏;王铁龙;张顺;韩圣贤;刘作业;杨冬燕
作者机构：
兰州大学 核科学与技术学院,甘肃 兰州 730000
文献出处：
引用格式：
[1]王集锦;普文冉;马骏;王铁龙;张顺;韩圣贤;刘作业;杨冬燕-.紫外可见漫反射光谱和Tauc plot方法分析无机Ruddlesden-Popper钙钛矿带隙)[J].大学物理实验,2022(04):13-16
A类：
Srn+1,O3n+1,带隙分析
B类：
紫外可见漫反射光谱,Tauc,plot,Ruddlesden,Popper,当今社会,大学物理实验,物理实验教学,谱方法,简便易行,能带结构,Plot,Tin,层状钙钛矿
AB值：
0.193522
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