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红外探测器杜瓦冷头的低温可靠性研究
文献摘要：
红外探测器杜瓦冷头结构受温度冲击时容易损伤,甚至会导致探测器组件失效.这是红外探测器组件产品研制中不可避免的可靠性问题之一.针对红外探测器杜瓦冷头的低温可靠性问题展开了相关研究.结合粘接失效原理和有限元仿真,讨论了粘接胶厚度、溢胶等情况对杜瓦冷头低温应力、冷头-冷指粘接面积与探测器温度关系的影响.结果表明,胶层状态是影响杜瓦冷头低温损伤和温度传导的重要原因.产品研制过程中可通过控制粘接胶层来降低大面阵探测器粘接结构的低温应力,从而提高冷头结构的低温可靠性.
文献关键词：
红外探测器;杜瓦冷头;热应力
中图分类号：
作者姓名：
付志凯;王冠;韦书领;孟令伟;宁提
作者机构：
华北光电技术研究所,北京100015
文献出处：
引用格式：
[1]付志凯;王冠;韦书领;孟令伟;宁提-.红外探测器杜瓦冷头的低温可靠性研究)[J].红外,2022(11):14-19,48
A类：
杜瓦冷头,粘接面积
B类：
红外探测器,可靠性研究,温度冲击,易损,探测器组件,件产品,产品研制,粘接失效,失效原理,有限元仿真,胶厚,溢胶,温度关系,胶层,层状,研制过程,来降,大面阵,面阵探测器,粘接结构,热应力
AB值：
0.240602
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