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电子材料超低本底α粒子测试技术及试验研究
文献摘要：
首先,介绍了3种关键的电子材料超低本底α粒子发射测试技术,包括α粒子来源甄别、 宇宙射线信号识别和氡气本底来源判别技术;然后,通过进一步地开展试验研究,发现锡铅合金焊料的表面α粒子发射率远高于锡银铜合金焊料,发射能谱分析表明二者发射的α粒子均来自材料自身的210Po核素,而经提纯处理后的合金焊料的表面α粒子发射率显著地下降.研究结果对高可靠性、 大规模电子系统α粒子软错误测试和评价,以及提升产品可靠性具有重要的意义.
文献关键词：
电子材料;α粒子;发射率;能谱
中图分类号：
作者姓名：
罗俊洋;张战刚;雷志锋;陈资文;彭超;岳少忠;张鸿;钟向丽;孙常皓;黄奕铭;何玉娟;黄云
作者机构：
工业和信息化部电子第五研究所, 广东 广州 511370;电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广东 广州 511370;湘潭大学材料科学与工程学院, 湖南 湘潭 411105
文献出处：
引用格式：
[1]罗俊洋;张战刚;雷志锋;陈资文;彭超;岳少忠;张鸿;钟向丽;孙常皓;黄奕铭;何玉娟;黄云-.电子材料超低本底α粒子测试技术及试验研究)[J].电子产品可靠性与环境试验,2022(03):37-41
A类：
B类：
电子材料,低本底,测试技术,甄别,宇宙射线,信号识别,氡气,铅合金,合金焊料,发射率,银铜合金,能谱分析,210Po,核素,提纯,高可靠性,电子系统,软错误,误测,产品可靠性
AB值：
0.395313
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