典型文献
让芯片内部一览无余
文献摘要：
烤蛋糕的时候,我们很难知道烤箱里何时才能达到我们想要的状态.对于微电子芯片来说亦如此,其中的风险甚至更高:工程师们如何确认芯片内部完全符合设计师的意图?半导体设计公司如何判断其知识产权是否被盗?更令人担忧的是,谁能确定其中没有秘密嵌入自毁开关或其他硬件木马?
文献关键词：
中图分类号：
作者姓名：
Anthony F.J.Levi;Gabriel Aeppli
作者机构：
文献出处：
引用格式：
[1]Anthony F.J.Levi;Gabriel Aeppli-.让芯片内部一览无余)[J].科技纵览,2022(05):36-41
A类：
B类：
一览无余,蛋糕,烤箱,何时,微电子芯片,完全符合,设计师,设计公司,被盗,令人担忧,秘密,自毁,硬件木马
AB值：
0.470805
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