典型文献
微控制器内置ADC的精度评测系统
文献摘要：
现在MCU内部基本都集成了 ADC,精度也越来越高,但对ADC精度要求较高的客户来说,想要准确评测一款MCU芯片的ADC精度还需要搭建一个精密测量系统.本文重点介绍了一种基于软硬件实现的自动化测量系统,不但能实现ADC精度测量,还可以在测量完成后对ADC关键误差参数进行快速运算,从而实现ADC精度的快速、准确评测.
文献关键词：
STM32;ADC;ADC 精度;ADC 误差;EO;EG;ET;EL;ED
中图分类号：
作者姓名：
温禄泉
作者机构：
珠海极海半导体有限公司,珠海519000
文献出处：
引用格式：
[1]温禄泉-.微控制器内置ADC的精度评测系统)[J].单片机与嵌入式系统应用,2022(12):58-61,66
A类：
B类：
微控制器,内置,ADC,精度评测,评测系统,MCU,精度要求,精密测量,测量系统,软硬件实现,自动化测量,精度测量,量完,误差参数,STM32,EO,EG,ET,EL,ED
AB值：
0.49179
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