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典型文献
γ射线辐照对掺Ce钛酸铋铁电薄膜性能的损伤
文献摘要:
采用溶胶-凝胶法在复合基底Pt/Ti/SiO2/Si上制备系列Bi3.25Ce0.75Ti3O12(BCTO)铁电薄膜,并对薄膜进行了不同剂量的γ射线辐照.通过热重-示差扫描量热分析仪(TG-DSC)、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜-能谱仪(SEM-EDS)和铁电测试仪等对辐照前后的薄膜的结构、微观形貌、铁电性、漏电性以及抗疲劳性等进行了对比研究.结果表明:随着对γ射线吸收剂量的增加,薄膜的晶体结构没有改变;薄膜的铁电性能显著减弱,剩余极化2Pr从辐照前的51.5μC/cm2下降到23.7μC/cm2;薄膜的漏电流密度增大,从辐照前的0.9×10?7 A/cm2增大到7.2×10?7 A/cm2;在经历1012次开关极化循环后,部分薄膜出现疲劳现象.
文献关键词:
γ射线;BCTO铁电薄膜;铁电性;漏电性;疲劳性
作者姓名:
王趱;高春香;张静;张跃宏;徐曼
作者机构:
沈阳化工大学分析测试中心 沈阳 110142
引用格式:
[1]王趱;高春香;张静;张跃宏;徐曼-.γ射线辐照对掺Ce钛酸铋铁电薄膜性能的损伤)[J].辐射研究与辐射工艺学报,2022(06):15-22
A类:
25Ce0,75Ti3O12,BCTO,漏电性
B类:
辐照,钛酸铋,铁电薄膜,膜性能,溶胶,凝胶法,复合基底,Pt,SiO2,Bi3,不同剂量,热重,热分析,DSC,能谱仪,EDS,电测试,测试仪,微观形貌,抗疲劳性,吸收剂量,晶体结构,铁电性能,2Pr,漏电流密度
AB值:
0.268821
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