典型文献
基于偏最小二乘回归的荧光粉涂覆型白光LED的光谱预测研究
文献摘要：
为了更便捷高效地对荧光粉涂覆型白光L ED的发光光谱进行预测,利用GaN蓝光L ED芯片与杭州萤鹤光电材料有限公司的Y H-S525M绿色荧光粉和Y H-C640E红色荧光粉进行实验样品的制备.分别测量其单色荧光光谱,测得蓝光芯片的发射峰波长为453 nm,选用的红色和绿色荧光粉的发射峰波长分别为631和526 nm.制备红色和绿色荧光粉通过AB胶混合并涂覆于蓝光芯片上的L ED实验样品,红粉/绿粉质量比设置为1:3,1.2:3,1.4:3,1.6:3,1.8:3,2:3,红粉混胶后的浓度为7％,9％,11％,13％,15％,17％.每组质量比和混胶浓度条件下的样品制备3～5份,利用杭州远方色谱有限公司的HAAS-2000高精度快速光谱辐射计测试样品的发光光谱,并进行蓝峰归一化处理得到共36组光谱数据.将白光光谱视为蓝色,绿色和红色三种单色荧光光谱的线性叠加,蓝色和红色峰项直接选用对应的发射谱,而绿色峰项选用两个高斯线型方程拟合,系数均由强度决定.通过循环搜索算法,分别计算36组实验条件下的模型参数最优值,对拟合结果进行优度检验,R2的范围为99.33％ ～99.88％.然后运用偏最小二乘回归方法建立荧光粉质量比和浓度与模型参数间的回归方程,最终得到一种能够精确预测两种荧光粉混合涂覆的白光L ED发光光谱的新方法.用一组新制备的样品测得的光谱功率分布进行预测效果检验,得到的预测光谱相对于实测光谱的拟合优度为99.62％,证明该方法的预测效果良好.该研究建立的预测模型从该类型的白光L ED的发光机理出发,分析发光时两种荧光粉之间的相互作用,并引入绿色荧光谱线的展宽效应,更加简单有效地建立起两种荧光粉的质量比和混胶浓度与白光光谱间的数学关系.该方法具有更好的普适性,为荧光粉涂覆型L ED的光源参数优化提供了一种新的思路.
文献关键词：
荧光粉涂覆型LED;双高斯峰拟合;偏最小二乘回归;光谱预测模型
中图分类号：
作者姓名：
张源哲;刘宇豪;陆雨洁;马超群;陈国庆;吴慧
作者机构：
江南大学理学院,江苏 无锡 214122;江苏省轻工光电工程技术研究中心,江苏 无锡 214122
文献出处：
引用格式：
[1]张源哲;刘宇豪;陆雨洁;马超群;陈国庆;吴慧-.基于偏最小二乘回归的荧光粉涂覆型白光LED的光谱预测研究)[J].光谱学与光谱分析,2022(08):2347-2352
A类：
S525M,C640E,双高斯峰拟合
B类：
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AB值：
0.277838
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