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基于S-G滤波与包络提取算法的半导体激光器自混合干涉微位移测量
文献摘要：
针对在半导体激光器自混合干涉(SMI)微位移测量中,测量噪声对SMI信号条纹计数极易引入误差,提出一种基于Savitzky-Golay(S-G)滤波与包络提取的SMI信号处理算法,对自混合信号处理并识别条纹后,干涉条纹能够得到准确地计数.该算法采用S-G卷积均值滤波处理、三次样条函数插值包络分析和信号归一化处理,可以有效消除噪声高频信号和提取信号包络.采用电压调制模式下驱动压电陶瓷(PZT)产生微振动作为模拟振动源,实验中设置3组不同电压调制幅值下的振动源,采集并分析SMI信号及相应振幅信息.在3组实验当中,经过算法处理过的SMI信号,其干涉条纹数与电压调制PZT振动幅值由处理前偏离线性关系到处理后保持线性关系.实验结果表明,经S-G滤波与包络提取算法处理过的SMI信号能真实反映微米量级的微位移.
文献关键词：
自混合干涉;S-G滤波;包络分析;归一化;微位移测量
中图分类号：
作者姓名：
李思嘉;刘晖;熊玲玲;马训鸣
作者机构：
西安工程大学机电工程学院,陕西西安710048;西安市现代智能纺织装备重点实验室,陕西西安710048
文献出处：
引用格式：
[1]李思嘉;刘晖;熊玲玲;马训鸣-.基于S-G滤波与包络提取算法的半导体激光器自混合干涉微位移测量)[J].机械与电子,2022(04):13-19
A类：
B类：
包络提取,半导体激光器,自混合干涉,微位移测量,SMI,测量噪声,Savitzky,Golay,信号处理,理算,干涉条纹,均值滤波,滤波处理,三次样条函数,包络分析,归一化处理,消除噪声,高频信号,取信,信号包络,调制模式,驱动压,压电陶瓷,PZT,微振动,振动源,振动幅值,离线,到处,微米
AB值：
0.276416
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